部件的详细信息 Timetravel Test

部件的详细信息 "Timetravel Test" ID: 878

Timetravel Test

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类别: Active Components

ICs
库存: 100.00 Gramm / 10.00 Gramm
封装: THT

DIP-ICs

DIP-28

2020/9/23 09:24:20
2020/3/7 23:00:12

5.00 g

需要审查

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rer

描述	存储位置	数量
Neue Lieferung XYZ	Schrank 1	100.00000 Gramm			data matrix lcsc_qr pocket 新建空标签		ID: 1122 上次修改: 2020/9/23 09:21:55 创建于: 2020/9/23 09:21:55

	名称	描述	数量	装配名称

将部件添加到项目中

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创建于	2020年3月7日 23:00:12
创建此部件的用户	拒绝访问
上次修改	2020年9月23日 09:24:20
最后编辑此部件的用户	拒绝访问
ID	878
内部零件号 (IPN)	没有定义
Favorite	TRUE
是项目生产的部件	FALSE
最低订购量	未知
由信息提供者创建	FALSE
EDA信息	参考前缀: 值: 保持可见: FALSE 从BOM中排除: FALSE 从PCB中排除: FALSE 从仿真中排除: FALSE KiCad 符号名: KiCad 封装名: Package_DIP:DIP-28_W7.62mm